Lichtmikroskopie:
Materialographie im Durchlicht- und Auflichtverfahren an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen
- Hell-Dunkelfeld
- Polarisation
- Phasenkontrast
- Interferenzkontrast nach Nomarski (DIC)
- Vergrößerungen: 10x bis 2000x
- optisches Messmikroskop

Mikrohärteprüfung NiSil 1000x (9×13)

Karbidbildung in einer Einsatzsschicht 1000x (9×13)

Ti Karbide im 1.4571

partielle Aufkohlung am 1.4301 beim Glühen In Vakuum auf CFC Gestellen

Werkzeugstahl , Restaustenit durch falsche Wärmebehandlung 2000x (9×13)

Martensitbildung durch Selbstabschreckung beim Laserschweißen

Ti-Legierung 100x (9×13)

Phosphiteutektikum (Steadit) in Gußeisen 1000x (9×13)
Mikrophotographische Untersuchung im REM (Rasterelektronenmikroskop)

REM Topcon SM -500

Sinterwerkstoff
- Mikrosonde EDX zur Analyse im REM
Analyse an Einschlüssen im Glas